|
ЦИТ-Нано / Поддержка / Статьи / Туннельная спектроскопия Туннельная спектроскопия палладий-бариевых эмиттеров© В.Б. Байбурин, Ю.П. Волков, Е.М. Ильин, С.В. Семенов Экспериментально исследована поверхность палладий-бариевого катода методами сканирующей зондовой микроскопии. С помощью туннельной спектроскопии получена картина распределения работы выхода на микроучастке поверхности катода. Проведено сопоставление распределения работы выхода с различными фазами палладий-бариевого сплава. Надежность и долговечность работы мощных электровакуумных приборов сверхвысокочастотного диапазона во многом определяется физическими свойствами используемых эмиттеров (их составом, структурой, особенностями механизма функционирования и т.д.). Эффективным источником электронов во многих современных электровакуумных приборах являются металлосплавные эмиттеры [1]. Несмотря на достаточно длительное их применение, до сих пор нет полного представления о механизме их функционирования, в частности формировании эмиссионных участков на поверхности катодов. Успешность решения данной проблемы, имеющей не только научное, но и большое практическое значение, связанное с совершенствованием эмиссионных свойств катодов, во многом определяется возможностью анализа с высоким пространственным разрешением физических параметров, характеризующих микроучастки поверхности эмиттера. Рис. 1.
Изображение топографии поверхности палладий-бариевого эмиттера, полученное с помощью сканирующего туннельного микроскопа на воздухе. Размер участка сканирования 90 x 90 nm, максимальная высота выступов 30.7 nm, туннельный ток 1 nA, напряжение смещения 100mV. Рис. 2.
Туннельная спектроскопия с модуляцией туннельного зазора участка поверхности палладий-бариевого катода 90 x 90 nm. Участкам белого цвета соответствует минимальная работа выхода (2.3 eV), серым — 3.7 eV, черным — максимальная (5.2 eV). Экспериментальные данные об исследовании свойств поверхностей металлосплавных, и в частности палладий-бариевых катодов, по данным авторов практически отсутствуют. Классические методы анализа (например, оптическая металлография, химический и рентгеноструктурный анализ) не позволяют проводить исследование рельефа и состава поверхности эмиттеров с высоким пространственным разрешением и зачастую весьма дороги. Для решения данной проблемы весьма эффективными могут оказаться методы сканирующей туннельной микроскопии [2], дающие возможность исследовать топографию и работу выхода поверхности со сверхвысоким пространственным разрешением. В настоящей работе приведены результаты наблюдений поверхности палладий-бариевых катодов методами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Поверхность катода промывалась 96%-ным этиловым спиртом для удаления загрязнений и далее исследовалась на воздухе с помощью универсального комплекса сканирующей зондовой микроскопии [3], с использованием в качестве острия механически обрезанной проволоки из платиноиридиевого сплава. На рис. 1 представлено СТМ-изображение топографии микроучастка поверхности эмиттера размерами 90 90 nm, полученное при туннельном токе 1 nA. Как видно из рис. 1, поверхность эмиттера достаточно сильно изрезана и имеет пористый характер, что соответствует современным теоретическим представлениям. На рис. 2 показано распределение областей с различными величинами работы выхода по участку 90 x 90nm поверхности эмиттера, которым соответствуют различные цвета от белого (минимальная работа выхода —2.3 eV) до черного (максимальная работа выхода —5.2 eV). Изображение получено с помощью туннельной спектроскопии, выполненной с модуляцией туннельного зазора, при этом цифровая обратная связь, поддерживающая постоянное значение туннельного тока, отключалась. Предположительно белые участки соответствуют соединениям бария с кислородом (среднее значение работы выхода —2.3 eV), серые участки ? интерметаллиду (3.7 eV), а черные представляют собой палладиевую матрицу с максимальной работой выхода —5.2 eV. Полученный результат подтверждает теоретическое представление об островковом характере участков эмиссии катода. Представляется, что исследования топографии поверхности эмиттера и его состава методами СТМ могут оказаться полезными при изучении влияния различных химико-технологических факторов на эмиссионные способности катодов при их производстве и эксплуатации и возможности их оптимизации.
Список литературы
|
|
© 2005—2024 Группа компаний «Центр Инновационных Технологий» Режим работы: 09:00 - 17:00. суббота, воскресенье выходной 410010, Саратов, 1-й Пугачевский поселок, 44-б Тел.: 69-32-23 Email: |